射頻輻射抗擾度測(cè)試 (輻射敏感度/抗擾度測(cè)試)

      1.射頻輻射抗擾度測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：

　　IEC61000-4-3，　GB/T17626.3

　　2.造成射頻輻射的起因:

　　射頻輻射電磁場(chǎng)對(duì)設(shè)備的干擾往往是由設(shè)備操作、維修和安全檢查人員在使用移動(dòng)電話時(shí)所產(chǎn)生的，其他如無(wú)線電臺(tái)、電視發(fā)射臺(tái)、移動(dòng)無(wú)線電發(fā)射機(jī)和各種工業(yè)電磁輻射源(以上屬有意發(fā)射)，以及電焊機(jī)、晶閘管整流器、熒光燈工作時(shí)產(chǎn)生的寄生輻射(以上屬無(wú)意發(fā)射)，也都會(huì)產(chǎn)生射頻輻射干擾。

　　3. 射頻輻射抗擾度測(cè)試目的

　　建立一個(gè)共同的標(biāo)準(zhǔn)來(lái)評(píng)價(jià)電氣和電子設(shè)備的抗射頻輻射電磁場(chǎng)干擾的能力。

　　4. 射頻輻射抗擾度測(cè)試的嚴(yán)酷度等級(jí):

　　測(cè)試頻率范圍：80MHz~2GHz

　　主要測(cè)試設(shè)備：信號(hào)發(fā)生器，接收機(jī)，全電波暗室

　　試驗(yàn)等級(jí)：

　　等級(jí) 試驗(yàn)場(chǎng)強(qiáng)/(V/m)

　　1 　　1

　　2　　 3

　　3 　　10

　　X　　 特定

　　注：X是一開(kāi)放的等級(jí)，可在產(chǎn)品規(guī)范中規(guī)定。

　　5. 射頻輻射抗擾度模擬試驗(yàn)

　　隨著技術(shù)的發(fā)展，電磁環(huán)境也隨著惡化，測(cè)試頻率已由早期的(27～500)MHz，擴(kuò)展到(80～1000)MHz。其中高頻段的擴(kuò)展是與移動(dòng)電話的普遍使用有關(guān)，它的工作頻率現(xiàn)已擴(kuò)展到900MHz(甚至更高);對(duì)80MHz的選擇則與對(duì)測(cè)試場(chǎng)地的要求、對(duì)射頻功率放大器的功率要求和對(duì)天線的選用要求有關(guān)。至于80MHz以下部分，將由IEC61000-4-6標(biāo)準(zhǔn)加以補(bǔ)充。

　　試驗(yàn)時(shí)要用1kHz正弦波進(jìn)行幅度調(diào)制，調(diào)制深度為80%。

　　6. 射頻輻射抗擾度基本試驗(yàn)儀器

　　(1)信號(hào)發(fā)生器(主要指標(biāo)是帶寬、有調(diào)幅功能、能自動(dòng)或手動(dòng)掃描、掃描點(diǎn)上的留駐時(shí)間可設(shè)定、信號(hào)的幅度能自動(dòng)控制等)。

　　(2)功率放大器(要求在3m法或10m法的情況下，達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的場(chǎng)強(qiáng)。對(duì)于小產(chǎn)品，也可以采用1m法進(jìn)行試驗(yàn)，但當(dāng)1m法和3m法的試驗(yàn)結(jié)果有爭(zhēng)執(zhí)時(shí)，以3m法為準(zhǔn))。

　　(3)天線(在不同的頻段下使用雙錐和對(duì)數(shù)周期天線。國(guó)外已有在全頻段內(nèi)使用的復(fù)合天線)。

　　(4)場(chǎng)強(qiáng)測(cè)試探頭。

　　(5)場(chǎng)強(qiáng)測(cè)試與記錄設(shè)備。

　　當(dāng)在基本儀器的基礎(chǔ)上再增加一些諸如功率計(jì)、計(jì)算機(jī)(包括專(zhuān)用的控制軟件)、場(chǎng)強(qiáng)探頭的自動(dòng)行走機(jī)構(gòu)等，可構(gòu)成一個(gè)完整的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)。

　　7. 射頻輻射抗擾度測(cè)試的場(chǎng)地

　　最好采用電波暗室(主要考慮場(chǎng)地均勻性問(wèn)題。如果在這個(gè)電波暗室中還要考慮產(chǎn)品本身在工作中產(chǎn)生的電磁波騷擾測(cè)試時(shí)，則這個(gè)電波暗室還涉及到與開(kāi)闊場(chǎng)的比對(duì)問(wèn)題)。

　　為了保證試驗(yàn)結(jié)果的可比性和重復(fù)性，要對(duì)試驗(yàn)場(chǎng)地的均勻性進(jìn)行校驗(yàn)。

　　試驗(yàn)方法

　　試驗(yàn)在電波暗室中進(jìn)行，試驗(yàn)時(shí)人員不能進(jìn)入，用工業(yè)電視監(jiān)視試品的工作情況(或從試品引出可以說(shuō)明試品工作狀態(tài)的信號(hào)至測(cè)定室，由專(zhuān)門(mén)儀器予以判定)。暗室內(nèi)有天線(包括天線的升降塔)、轉(zhuǎn)臺(tái)、試品及工業(yè)電視攝象機(jī)。

　　工作人員、測(cè)定試品性能的儀器、信號(hào)發(fā)生器、功率計(jì)和計(jì)算機(jī)等設(shè)備在測(cè)定室里。高頻功率放大器則放在功放室里。

　　試驗(yàn)中，對(duì)試品的布線非常講究，應(yīng)記錄在案，以便必要時(shí)重現(xiàn)試驗(yàn)結(jié)果。