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高低溫試驗
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可靠性GB/T2423.1低溫試驗申請標準要求
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可靠性GB/T2423.1低溫試驗申請標準要求。GB/T2423.1是針對電工電子產(chǎn)品的國標低溫試驗標準，等同于國際標準IEC60068-2-1。億博檢測認證是具備CNAS資質(zhì)認可的第三方環(huán)境可靠性測試機構(gòu)，可提供GB/T2423.1低溫試驗第三方檢測服務。
GB/T2423.1適用范圍
GB/T2423.1標準規(guī)定的低溫試驗適用于非散熱和散熱試驗樣品。試驗Ab和試驗Ad與早期版本無實質(zhì)性的差異，增加試驗Ae的目的主要是檢測那些要求在整個試驗過程包括降溫調(diào)節(jié)期間都要通電運行的設(shè)備。
GB/T2423.1低溫試驗的目的僅限于用來確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運輸或貯存的能力。
GB/T2423.1低溫試驗不能用來評價試驗樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運行能力，在這種情況下，應采用GB／T 2423.22。
GB/T2423.1低溫試驗方法細分為以下幾種：
-非散熱試驗樣品低溫試驗：
*試驗Ab，溫度漸變。
-散熱試驗樣品低溫試驗：
*試驗Ad，溫度漸變；
*試驗Ae，溫度漸變，試驗樣品在整個試驗過程通電。
GB/T2423.1標準給出的試驗方法通常用于試驗期間能達到溫度穩(wěn)定的試驗樣品。
GB/T2423.1低溫試驗嚴酷等級
相關(guān)規(guī)范應規(guī)定由溫度和試驗持續(xù)時間表示的試驗嚴酷等級，嚴酷等級應：
a）從6.6.1和6.6.2所給的數(shù)值中選��；
b）從已知的環(huán)境得出，如果該環(huán)境給出顯著差異的數(shù)值；
c）引自其他知名的相關(guān)數(shù)據(jù)源（例如IEC 60721）。
6.6.1溫度：-65℃、-55℃、-50℃、-40℃、-33℃、-25℃、-20℃、-10℃、-5℃、+5℃。
6.6.2持續(xù)時間：2h、16h、72h、96h。
GB/T2423.1低溫試驗步驟
1.初始檢測。試驗樣品的初始狀態(tài)可通過目視檢查和（或）按相關(guān)規(guī)范要求進行功能檢測獲得。
2.條件試驗。試驗樣品應按相關(guān)規(guī)范的詳細規(guī)定在低溫條件下暴露至規(guī)定的持續(xù)時間。
對于試驗樣品不能達到溫度穩(wěn)定的例外情況，試驗持續(xù)時間是從試驗樣品通電時開始計算的。典型地，這種情況是由那些具有長時間工作循環(huán)的樣品引起的。
3.中間檢測。相關(guān)規(guī)范可能要求在條件試驗中間或條件試驗結(jié)束時（試驗樣品仍在試驗箱中）進行加負載和（或）測量。如果要求進行這種測量，相關(guān)規(guī)范應對這種測量的內(nèi)容及時間間隔進行規(guī)定。對于這種測量，試驗樣品不應移出試驗箱。
注：如果要求知道某種試驗樣品在規(guī)定的試驗持續(xù)時間結(jié)束之前的性能，應該為每一不同的試驗持續(xù)時間準備一個單獨批次的試驗樣品。每一批次的樣品應單獨進行恢復和最后檢測。
4.最后的線性升溫。如果試驗樣品在試驗期間保持在運行狀態(tài)或負載條件下，應在溫度上升前斷電或卸掉負載，但試驗Ae除外，因為該試驗要求試驗樣品在整個恢復期間保持通電運行狀態(tài)。
當規(guī)定的試驗持續(xù)期結(jié)束時，試驗樣品應保持在試驗箱內(nèi)，然后將溫度慢慢升至試驗標準條件的溫度偏差范圍內(nèi)。試驗箱內(nèi)的溫度變化應不超過1K／min（不超過5min時間的平均值）。
5.恢復試驗。樣品應在試驗箱內(nèi)經(jīng)過恢復過程或其他合適過程。應采取合適的步驟按要求去除水滴，并不損害試驗樣品。試驗樣品在標準環(huán)境條件下進行恢復，恢復時間應足夠使溫度達到穩(wěn)定，至少1h。如果相關(guān)規(guī)范要求，試驗樣品應在恢復期間連續(xù)通電或加載并測量。如果上述標準條件不適合待檢測的試驗樣品，相關(guān)規(guī)范可要求其他的恢復條件。
6.最后檢測。應對試驗樣品進行目視檢查以及相關(guān)規(guī)范要求的性能檢測。
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